Высокотемпературная микроскопия
Для исследования механизма и кинетики высокотемпературных процессов кристаллизации, полиморфных превращений кристаллических веществ, растворения минералов в расплавах, диссоциации соединений, явлений смачивания металлов неметаллическими расплавами может быть использован высокотемпературный микроскоп.
Для исследования указанных процессов Институтом химии силикатов АН СССР разработана специальная установка [951, 952, 953]. Основными элементами установки являются высокотемпературная камера, поляризационный микроскоп и осветитель. На рис. 118 показана камера высокотемпературного микроскопа.
В качестве нагревателей можно применять платину, ирридий, вольфрам и молибден.
Исследования можно проводить до 1600—2800 0С, что зависит от используемого металлического нагревателя.
Подвергаемый исследованию образец помещают внутри металлической петли нагревателя 6. Установка позволяет нагревать и охлаждать образец с необходимой скоростью, а также выдерживать его при заданной температуре.
В микроскопе используют микротелеобъективы с рабочим расстоянием примерно 14 мм. Максимальное увеличение 240. Прозрачные объекты можно наблюдать в проходящем поляризованном свете, а непрозрачные — в отраженном.
Температуру исследуемых микрообъектов можно определять также измерением напряжения тока на нагревателе с соответствующей предварительной градуировкой. В высокотемпературном микроскопе возможно исследовать фазовый состав в различных системах при высоких температурах, изучать появление отдельных этапов кристаллизации и скорость ее при медленном охлаждении расплавов с формированием мелкокристаллических структур.
Исследования возможно проводить в окислительной, восстановительной и инертной газовых средах [953].