Метод рентгеновской контактной микрофотографии

Метод рентгеновской контактной микрофотографии в принципе не отличается от метода обычной рентгенографии. Он основан на способности составных частей вещества по-разному адсорбировать рентгеновские лучи. По этому методу на фотопленке фиксируются рентгеновские лучи, прошедшие через материал и имеющие вследствие этого разную интенсивность. Четкость рентгеновского изображения зависит от характера первичного рентгеновского излучения. Полученное рентгеновское изображение исследуют при большом увеличении под микроскопом.

В результате получается теневая картина внутреннего строения вещества.

При проведении эксперимента объект исследования вместе с пленкой помещают в маленькую камеру, которую надевают на коллиматор рентгеновской трубки (рис. 105).

Метод рентгеновской контактной микрофотографии применяют для малых проб. Объект исследования изготовляют в виде тонких шлифов (40—500 мк) по типу минералогических. Исследуемые шлифы должны быть высокого качества: содержать минимальное количество отверстий и плотных скоплений, так как иначе могут быть допущены ошибки в истолковании результатов вследствие различного потемнения пленки.

 

Содержание